芯飛睿的質(zhì)量控制
用心制造
- 即時生產(chǎn)
- 物料控制嚴格
- 標準化生產(chǎn)流程
- 卓越的生產(chǎn)能力
一致性高
- 嚴格的工藝流程
- 實時過程控制
- 可重復性高
準時交貨
- 優(yōu)秀的供應鏈
- 高效的發(fā)貨
質(zhì)量證書
- ISO9001:2015認證
- ISO10110
芯飛睿的質(zhì)量檢測實驗室為我們發(fā)出的每一款產(chǎn)品進行質(zhì)量把關。
芯飛睿的目標是確保制造的每一個產(chǎn)品都能通過嚴格的質(zhì)量檢測。例如外觀，尺寸公差，表面質(zhì)量，平行度，光譜特性等相關步驟。我們認為質(zhì)量控制是激光元器件在制造過程中最重要的步驟。芯飛睿致力于您可以獲得質(zhì)量與性能卓越的光學產(chǎn)品，能使您的試驗與生產(chǎn)成功完成。
晶體毛坯目視初檢
在暗房中，使用綠光激光器點光源或者線光源透射晶體內(nèi)部，逐層掃過，通過肉眼觀測晶體坯料的缺陷情況。主要用于檢測晶體坯料內(nèi)部的包裹點，云層，微氣泡等宏觀缺陷。
應力儀
應力儀可用于對晶體毛坯內(nèi)部的應力、晶界、均勻性進行檢測。對晶體的毛坯切片，細磨或者拋光，在應力儀下觀察材料的內(nèi)部應力分布情況，觀察是否存在晶界，多晶，孿晶。觀察衍射光圈，通過光圈的變形情況來檢測晶體內(nèi)部結晶情況及摻雜均勻性情況。
X射線定向儀
使用X射線定向儀，可以對晶體的加工面進行精準的定向測試，用于判定晶體的加工方向的準確性，檢測材料中是否存在多晶，孿晶，非晶區(qū)域。
- 檢定精度為：0.1 arcsec.
- 誤差范圍：±1 arcsec.
表面質(zhì)量
- 高清200倍CCD成像儀
可以很直觀的分辨2.5um麻點，并且判斷麻點間距和麻點數(shù)量，是表面質(zhì)量檢測首選設備
- 光學顯微鏡
40倍、80倍光學顯微鏡，晶體擦拭及鍍膜前檢測的首選儀器，目測觀察表面質(zhì)量及潔凈度，方便快捷。
光譜測試
- Uv-Vis-NIR分光光度計（Agilent Cary 7000）
測試范圍：200-2500nm
測試精度：0.001%
誤差：±0.01% 工件尺寸：>10*10
- 傅里葉紅外光譜儀(PE Spectrum Two)
測試范圍：2000-25000nm
測試精度：0.01%
誤差：±0.05% 工件尺寸：>12*12
弱吸收測試
- 弱吸收測試儀
測量光學材料的弱光吸收系數(shù)及測量光學薄膜微弱吸收
平面干涉儀
- Zygo 干涉儀-φ100mm
測試范圍：dia2-dia100mm
測試精度：λ/30
- 激光平面干涉儀
測試范圍：dia2-dia80mm
測試精度：λ/10
膜層牢固度檢測
- 3M-600#膠帶拉力測試
測試范圍：通用型
操作簡單快捷，測試首選
- UMT-摩擦磨損試驗機
測試范圍：1 mN-1000 N
可量化薄膜牢固度，實驗室型設備
AI EASSON EVM-2515T型影像儀
- 搭配雷尼紹探針，可以實現(xiàn)對待測產(chǎn)品三個維度的精密尺寸測量
- X/Y維度測量誤差：2+L/200(um)
- Z軸測量誤差：3+L/200(um)
- 最大測量范圍250mm
- 無接觸高精度測量，能夠實現(xiàn)對待測物料的外觀、尺寸等方面進行無損測量，保證一致性。
1、自研晶體偏振消光比測試平臺。采用高偏振比功率可調(diào)型激光光源，搭配高偏振消光比檢偏器以及低噪聲探測系統(tǒng)，可以實現(xiàn)＞30dB的偏振消光比測量。通過該測試平臺能夠對鍵合晶體、激光介質(zhì)材料等內(nèi)部缺陷進行檢測。以此保證激光介質(zhì)材料的穩(wěn)定性與一致性。
2、高低溫老化爐，型號：SCICOOLING，BTC-SG7502-05F。通過快速升降溫，可以實現(xiàn)產(chǎn)品的快速老化，提高產(chǎn)品的穩(wěn)定性。主要參數(shù)如下：溫度波動 ≤±0.2℃，溫度范圍 -75℃ ~ +150℃，升降溫速率≥5℃/min。利用該設備可以實現(xiàn)對產(chǎn)品的老化，提升產(chǎn)品可靠性與穩(wěn)定性等指標。
此外，我司還具備一系列常規(guī)檢測設備，比如波長計、能量計、高速光電探頭、多用途數(shù)字萬用表等，實現(xiàn)對產(chǎn)品的波長、功耗、脈寬、泵浦時延、出光指向性等參數(shù)的常規(guī)測量。